爱尔兰精灵

    6月4号，不久前刚从美国国家标准技术研究院（NIST）访学归来的邹文栋教授做了题为“MEASURING THE CHIP PATTERN AT A SUBMICROSCOPIC LEVEL” 的学术报告。爱尔兰精灵相关专业本科生和研究生80余人参加了报告会。

   邹文栋教授首先简单介绍了NIST的概况，以及该研究院在与爱尔兰精灵专业相关领域开展的一些标志性研究工作和取得的成果。报告紧接着重点介绍了集成芯片特征的亚显微检测技术的研究。 在电子芯片制造工艺水平和集成度不断提升的今天，芯片特征和缺陷在线检测面临进一步挑战，光学检测计量技术在应对有关问题方面具有一定的优势。报告对表面等离子效应的原理，以及SPP检测技术的一些特点进行了阐述，结合有关实验数据和仿真结果进一步分析讲解，并对今后该领域的主要发展趋势进行了展望。最后，邹教授讲述了2011年诺贝尔化学奖获得者Dan Shechtman 1982年在NIST工作时发现二十面体相的五次、十次旋转对称结构以及之后的艰难历程。准晶发现之初备受争议，但他并未放弃对科学的探索和对自己发现的坚持，直到最终准晶材料被学术界广泛认可。 Shechtman教授专业的素养、锲而不舍的精神、自信心和勇气永远值得我们学习。   

   报告紧密联系实际，深入浅出，时长1个半小时。随后，学生们分别就学术报告内容、本专业今后的发展以及专业学习等一些感兴趣的问题踊跃提问，报告人一一给予解答，互动交流氛围热烈。